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分體式涂層測厚儀Leeb242

分體式涂層測厚儀Leeb242

簡要描述:
分體式涂層測厚儀Leeb242采用磁性和電渦流兩種測量方法,可檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等),或者非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。

更新時間:2024-01-05

訪問量:302

廠商性質(zhì):代理商

生產(chǎn)地址:

概述

分體式涂層測厚儀Leeb242采用磁性和電渦流兩種測量方法,可檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等),或者非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。

分體式涂層測厚儀Leeb242應(yīng)用在電鍍、防腐、航天、航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領(lǐng)域。既可用于實驗室,也可用于工程現(xiàn)場。配置不同的探頭,適用于不同場合。它是檢測行業(yè)的儀器。

主要功能

● 具有兩種測量方式:連續(xù)測量和單次測量方式;

● 具有兩種工作方式:直接和成組方式;

● 具有自動統(tǒng)計功能:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV);

● 可采用單點校準(zhǔn)和兩點校準(zhǔn)兩種方法對儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;

● 存儲功能:可存4 個校正工件可保存。分2類工件,每類26組,每組15個,共1560個測值;

● 刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存儲區(qū)內(nèi)的數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測量;

● 設(shè)置限界:對限界外的測量值能自動報警;

● 具有電源欠壓指示功能,操作過程有蜂鳴聲提示,自動關(guān)機方式。

● 一體式打印:可現(xiàn)場打印測量數(shù)據(jù)報告,也可打印以往儲存的測量數(shù)據(jù),并提供多種打印選項

技術(shù)參數(shù)

項目

Leeb 242

測頭類型

F1或者N1

工作原理

磁感應(yīng)/電渦流

測量范圍

0~1250μm

低限分辨率

0.1μm

示值誤差

一點校準(zhǔn)

±(3%H+1)

二點校準(zhǔn)

±[(1~3%)H+1]

測試條件

最小曲率半徑mm

凸1.5mm、凹9mm

最小面積直徑mm

Φ7mm

基本臨界厚度mm

0.5mm

工作環(huán)境

溫度

0~40℃

濕度

20%~90%

電源

鋰電池充電

充電時間

3-6小時

工作時間

10小時

外形尺寸

230×86×46mm(主機)

重量

400g

外殼材質(zhì)

塑料外殼

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機、標(biāo)準(zhǔn)試片、鐵基體、堿性電池、磁性探頭或渦流探頭、打印紙

選配

標(biāo)準(zhǔn)試片、探頭、渦流探頭、打印紙、pc通訊

測量原理

● 本儀器采用了磁性原理的測厚方法,可測量磁性金屬基體( 如鐵、鈷、鎳 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)?;蛘卟捎昧穗姕u流的測量原理,可測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

A. 磁性法(F型測頭):當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時,測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過其磁阻的改變量可測出覆蓋層的厚度。

B.渦流法(N型測頭):利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場,當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產(chǎn)生電渦流,并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用,通過測量反饋作用的大小可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。--選配

 

   a41               3

 A、磁性法基本工作原理          B、渦流法基本工作原理(選配)

測量步驟

 A)將測頭置于開放空間,按一下開機鍵開機,檢查電池電壓。

說明1:當(dāng)電池符號滿格顯示,表示電池電壓正常;電池電量小于2格時,請立即更換電池,以保證測量的準(zhǔn)確性。

2:長期不用時應(yīng)將電池取出。開機時正常情況下,開機顯示界面如下圖所示:

            涂層測厚儀210_04

  

   “鐵基體"——F型測頭,測試對象為鐵性基體

    “A"——上次關(guān)機前的最后一次測量模式

    “數(shù)值"——上次關(guān)機前的最后一次測量值

B)選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)儀器。

C)測量方法:握住滑套將測頭與測試面垂直地接觸,隨著一聲蜂鳴聲,屏幕顯示測量值,提起側(cè)頭可進(jìn)行下次測量。

D)關(guān)機:按開關(guān)機鍵,或者大約5分鐘后儀器自動關(guān)機。

注:如果開機儀器自動測試,請按‘校零’鍵.并進(jìn)行五試片校準(zhǔn)。

說明: 1. 如果在測量中測頭沒有與待測面垂直接觸,可能會顯示一個誤差較大的測值,可以按清除鍵清除該值;

2.測量三次或多次后,儀器可自動對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計即:平均值、偏差、測量次數(shù)、最大測量值、最小測量值。

產(chǎn)品展示

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